深圳市元锋科技有限公司

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主营产品:矢量网络分析仪、频谱分析仪、微波/射频信号源、示波器

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企业信息
  • 深圳市元锋科技有限公司

  • 公司注册地址:
    深圳市宝安区西乡街道新安四路284号锦泽大厦2楼203
    注册资本:
    500万人民币
    企业类型:
    有限责任公司(自然人独资)
    主营产品:
    矢量网络分析仪 频谱分析仪 微波/射频信号源 示波器
联系方式
  • 联系人:
    杨先生
  • 职 位 :
    总经理
  • 电 话 :
    400-6178668
  • 手 机 :
    13926526199
  • 传 真 :
    400-6178668
  • 地 址 :
    广东 深圳 宝安区 深圳市宝安区宝安大道3016号富星通大厦701.
  • 客 服 :
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Chroma/致茂台湾58212-CTester Mode

Chroma/致茂台湾58212-CTesterMode

订货量(台) 价格
1 - 9 99999.0元/
10 - 49 88888.0元/
≥50 77777.0元/
  • 发 货 期:3天内发货
  • 所 在 地:广东 深圳
  • 手     机: 13926526199

详细信息

是否进口:否产地:台湾
加工定制:否品牌:Chroma/致茂
型号:58212-C订货号:58212-C
货号:58212-C规格:58212-C
适用范围:用于传输和接收应用是否跨境货源:否

Chroma/致茂台湾58212-CTester Mode特色:

  • High speed and accuracy

  • Lateral, vertical, and flip chip

  • Wide power test range (up to 200V/2A)

  • Up to 8 inch wafers

  • Chroma® Huge Photo Detector

  • Unique edge sensor

  • Patented probe head

  • Robust Z-Axis stage

  • Wafer mapping algorithm

  • External light shielding enclosure

  • Analysis tools and statistical reports

Test Items

  • Electrical parameters: 
    - Forward Voltage Measurement (Vf ) 
    - Reverse Breakdown Voltage Measurement (Vrb) 
    - Reverse Leakage Current (Ir) 
    - SCR detection

  • Optical parameters: 
    - Optical power (mw, lm, mcd) 
    - Dominant Wavelength (Wd) 
    - Peak Wavelength (Wp) 
    - Full Width at Half Maximum (FWHM) 
    - CIExy - CCT - CRI



The Chroma 58212-C features an automated LED wafer/chip probe tester, delivering fast and accurate LED measurements with test times less than 125ms *1.

The system can be modified to support different LED structures including Lateral, Vertical, and Flip Chip designs. Integrated scanners provide autonomous wafer mapping to guarantee precision testing. The patented probe head prevents device scratches and ensures solid contact with every LED.

Chroma's unique design acquires and analyzes optical data such as the dominant wave length, peak wavelength, and CCT. Additionally, it provides essential electrical data such as forward voltage, leakage current, and reverse breakdown voltage, all in one test step.

The 58212-C includes a user-friendly graphical interface and advanced logic algorithms to significantly increase production efficiency. Comprehensive statistical reports and analysis tools allow for easy control and mass production management.

Note *1 : Test condition: under 300um sample pitch, 5 electrical test parameters and 1 optical parameter. Due to differences in LED characteristics, the measurement results may vary.

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ModelDescription询价
58212-CLED Mapping Probe Tester


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联系人 杨先生
电话 400-6178668
手机 13926526199

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